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Séminaire d’équipe

Mardi 19 février à 13h en salle C, Angélique Bousquet "Potentialités de l’ellipsométrie spectroscopique pour la caractérisation de couche mince et de matériau".

L’ellipsométrie spectroscopique est une technique de caractérisation optique des matériaux particulièrement développée dans le domaine des revêtements et de la modification de surface. Cette technique permet classiquement de déterminer des épaisseurs et les indices optiques de matériaux, mais elle permet également d’obtenir des informations sur la morphologie des échantillons (densité, anisotropie, rugosité de surface…). Dans ce cadre de l’arrivée d’un ellipsomètre spectroscopique à l’Institut, l’objectif de ce séminaire est de présenter les informations très diverses qu’il est ainsi possible de retirer de ce type de mesures en s’appuyant sur des études variées.